QNIX4200铁基膜厚仪，QNIX4200覆层测厚仪是德国QNIX公司推出的一款一体式铁基膜厚仪。体积小巧，携带方便。可以测量铁基上0－3000μm的涂层厚度。无需校准。QNIX4200铁基膜厚仪，QNIX4200覆层测厚仪基体：Fe探头形式：一体LCD数字显示测量范围：0－3000μm显示精度：1μm工作温度：－10－＋60℃QNIX覆层测厚仪选型QuaNix技术参数型号42004500120015007500keyless基体FeFe/NFeFeFe/NFeFe、NFe、Fe/NFeFe/NFe探头形式一体一体、分体无线分体显示LCD数字显示测量范围0－3000μmFe:0-3000μmNFe：0－2000μm0－2000μm0－5000μm0－2000μm0－5000μm0－5000μm测量精度0－50μm：≤&plu***n;1μm，50－1000μm：≤&plu***n;1.5%，1000－2000μm：≤&plu***n;2%，2000－5000μm≤&plu***n;3%显示精度1μm0－999μm：0.1μm，1000μm以上，0.01mm工作温度－10－＋60℃温度补偿0－50℃存储－1500M型7500M型keyles***型3900个测量值，999个数据组数据传输－RS232打印、电脑统计功能－平均值、***大值、***小值、标准偏差超限报警－上下限***小基体10mm×10mm***小曲率凸、凹半径：3mm/25mm凸半径：5mm，凹半径：25mm***薄基体Fe：0.2mm，NFe：0.05mm电源5号电池2节9V碱性电池1节5号电池2节重量110g130g150g130g尺寸110×60×27mm166×64×34mm110×60×24mm110×62×22mm)