OPTOTOP是一套快捷***的，非接触式光学表面测量系统。它能在纳米，微米，及大尺寸下进行光学形貌及几何测量。优势:1.方便舒适的操作2.快速的数据提取3.多样性测量方法，完全的交互式操作4.2D形态下的微粗糙度值（表面粗糙及缺陷）5.特定区域内，具方向性的粗糙度值（***，纹理分析）6.2D,3D以及深度剖面的形貌描述应用范围：1.光滑面，粗糙面，曲面的表面粗糙度分析2.大尺寸计算，微几何形态描述，及平坦度控制3.表面控制，例如：滚筒模4.应用领域包括：研发，品质生产控制，验收检验，及损坏分析Example：图画纸Example:皮革（3D形貌）菲涅耳镜头表面（3D形貌）技术规格：传感器：彩色共焦***大测量频率：100HZ/300HZ(1kHZ)测量范围Z:300mm/1mm/2mm***大行程XY：60mmⅹ60mm解析度Z：12nm/25nm/75nm速率：0.1bis10mm/s侧向解析度：1.55mm/2mm/4mm平台尺寸：165ⅹ165mm测量长度：11mm/12.7mm/16.4mm电脑，软件，显示器：LCD17〞)