UM-1测厚仪可以测试钢铁，塑料，玻璃，陶瓷等超声波的良导体的厚度。具有***小值***功能，数据存储和报警功能。UM-1测厚仪技术参数：工作原理:脉冲～回波方式测量范围:0.8～300mm取决于所用探头、所测材料、表面状况单位和显示分辨率毫米-0.1英寸-0.01探头零点校准一点校准（用于常规的厚度测量）两点校准（测量曲面壁厚或特殊应用时，可显著提高测量精度）V路径修正自动V声程修正，补偿双晶探头的非线性度示值误差&plu***n;0.1mm(10mm以下)&plu***n;0.5%H+0.01(10mm以上)注：H为被测物厚度重复性:&plu***n;0.1mm显示屏128×64点阵液晶屏（42×57毫米）,具有EL背光，可调节对比度,厚度值数字高度可达13.75毫米测量刷新频率常规测量时4Hz，***小值扫查时25Hz材料声速范围:1000～9999m/s，0.0394～0.3937in/us数据存储划分5个数组，可存储500个厚度值工作语言中文、英文电源两节1.5VAA电池,当电池电量不足时，有低电压提示操作时间两节5号电池，使用时间可达200小时自动关机5分钟无操作后自动关机工作温度-10℃～+50℃，有特殊要求可达-20℃尺寸149mm×73mm×32mm(H×W×D)重量含电池200gUM-1测厚仪标准配置UM系列测厚仪标配探头仪器箱两节碱性电池耦合剂操作手册合格证装箱单选配件橡胶外套；众多可供选择的探头；校准用阶梯试块；耦合剂及高温耦合剂)