设备名称:二坐标测量机设备型号:sph2010(全新)产地:AEH年代:新技术状况:新数量:大量售价:议测量范围(mm)X:200测量范围(mm)Y:100测量范围(mm)Z:探测系统:英国RENISHAW系统分辨率:0.5μm示值误差(μm):1.5+L/100探测误差(μm):技术特点：:1.花岗岩基座及立柱为主机的机械系统提供了超高的稳定性2.先进的精密光栅测量系统结合计算机辅助误差修正软件保证仪器的高精度3.计算机可编程控制光学照明系统4.先进的图像处理及多样化的自动寻边采点功能取代了目视瞄准手工技术的传统测量方式，极大的提高了工作效率并从根本上消除了人为误差5.图形化的中文操作界面更易于操作者学习掌握6.编程及自学习编程功能令同一工件（或同类工件）的批量（或重复）测量更为轻松。7.功能强大的通用测量软件可与多种专用软件（包括统计与质量控制、曲线、齿轮、螺纹等）配合使用以解决普通的测量问题和各种特殊的测量解决问题。)