设备名称:二坐标测量机设备型号:sp2010ct(全新)产地:AEH年代:新技术状况:新数量:大量售价:议测量范围(mm)X:200测量范围(mm)Y:100测量范围(mm)Z:探测系统:英国RENISHAW系统分辨率:0.5μm示值误差(μm):1.0+L/100探测误差(μm):技术特点：:稳定的花岗岩底座及立柱，紧凑的十字工作台，精密光栅测量系统，高品质的光学显微镜及CCD图像传感器，可编程控制的光学照明系统，配之以功能强大的影像测量及数据处理软件，使该仪器具有外形尺寸小，整机重量轻，机械系统稳定，安装调试简单，功能强大，操作使用方便，应用领域广泛的优点。)