薄膜测厚仪型号:SS25-QGCH库号：M347844薄膜测厚仪SS25-QGCH更多信息>>>用于铝膜铝层的厚度测量。测量值数字显示，显示方块电阻，使用方便，显示直观。测量范围：0.5——6Ω。薄膜测厚仪SS25-QGCH相关产品薄膜测厚仪m36861数显薄膜测厚仪***1401台式薄膜测厚仪（0-1mm）/***m113137薄膜测厚仪国产m156249红外薄膜测厚仪m183262手持式塑料薄膜测厚仪m213712薄膜测厚仪m218693手持式塑料薄膜测厚仪m227503红外薄膜测厚仪m269215薄膜测厚仪m289204薄膜测厚规(0.01MM)m295550手持式塑料薄膜测厚仪m296498薄膜测厚仪m298674高精度薄膜测厚仪（自动）m298675薄膜测厚规(0.001)m300830薄膜测厚仪m304896薄膜测厚仪m312572薄膜测厚仪20-1270μm美国m315507铝氧化膜厚度测量仪/薄膜测厚仪m344396薄膜测厚仪m347844)