产品型号：EX-3000品牌：日本电测产品简介：本机能精确测量极细小物件镀膜厚度，可进行单层及多层膜厚测定、合金膜厚成份比同时测定及无素的光谱峰值测定分析。主要技术参数：仪器特点：搭载MS-WINDOWS系统（优越的操作性与高精度测定）使用与IBMPC兼容个人电脑，采用MS-WINDOWS软体，使用时多彩多姿。采用二种滤波器用用数位式滤波器外另有机械式滤波器（两种滤波器），在测定时，若是最适当的条件下，经常可得到最高的精度。准值仪5种孔径内藏式最小的准值仪孔径仅0.1mm，可测定极微小的部品。标准：0.1,0.2,0.5,1.0,2.0另备有2种特别规格可供选购。0.05,0.1,0.2,0.3,0.50.05*0.5,0.1,0.2,0.3,0.5自动测定测量台利用鼠标来调整测量位置，非常敏捷快速。或是测量位置已完成登陆时，可连续自动测定，利用座标补正、连结频道，来应付各种测量轨迹。亦可用自动测定来作标准片校正。优越的显示机能测定部显示尽像的表示X线照射部可由WINDOWS画面上取得照射部的表示。从准仪照射测定物的位置，可由倍率率更机能来实现尽面上测出物放大。在膜厚测定中的能谱表示由多频分析器可快速处理能谱分析。可执行测定物的能谱分析表示，操作简单。提长资料处理的速度充实测量报告的作成机能采用MS-WINDOW软件，测定画的撷取，非常简便，可充衬测量报告的制作机能。可同时间隔处理多项工作，机器在测量中亦可处理其它工作：包括如测量报告的制作。测定物膜厚附着分布表示以三次元图案来表示测定物膜厚附着状态的分布，作判定时一目了然。获得安心的保证性。自己诊断机能及X线管保食机能自己诊断机能，迅速的对策来排除机器的因扰。附有X线管的使用时间及耐久时间表示机能，可加强保养的安全性。仪器详细介绍：1.X线源:油浸式1.2mA小型微小焦点X线管.50kV管电压，可变管电压。2.照射方式：由上而下垂直照射方式。3.检出器：比例计数管。4.滤波器：采用Co和Ni双滤波器及数字式滤波器，可单一或同时使用。5.准直仪：Collimator采用五种孔径一体成型式，可自动切换使用。0.1,0.2,0.5,1.0,2.0φ㎜.(选购)0.05×0.5,0.05,0.1,0.2,0.5φ㎜.(选购)0.05,0.1,0.2,0.3,0.5φ㎜.6.样品观测系统：彩色CCD及高画质显示屏。7.多能谱分析器：使用256高频分析器，光谱自动分析，在执行测量及运算时，非常快速。贰.计算机操作部:8.计算机系统：(※仅供参考)IBM兼容中文个人计算机.CPU：IntelCeleron1GHz.RAM：128MB.FloppyDisk：3.5×1，40倍速CD-ROM×1.HardDisk：40GB.17"高画质显示屏.EPSON彩色喷墨式打印机。9.本机型(CO**OS-1X系列)之操作系统采中文窗口(Windows98)对话式操作，非常简便。-1-参.特性说明:10.测量项目：单层膜厚测定.2层膜厚测定.3层膜厚测定.无电解镍膜厚测定.合金膜厚成份比同时测定.元素的光谱峰值测定分析.11.测量材质：原子序22(Ti)~82(Pb)为激发法测量。原子序22以下为吸收法测量。12.测量范围：原子序22~24，约0.2~20um.原子序25~40，约0.1~30um.原子序41~51，约0.2~70um.原子序52~82，约0.05~10um.13.测量机能：同一点重复测定机能输出形式设定.能谱测定.14.测量条件或膜厚规格可以保存.当要测量相同的制品时，若测量条件已储存，可以马上进行测量。最大检量线档案数：可登录储存100组档案。最大测量档案数：可登录储存300组档案。15.档案记录：每一个批号可储存无限个测量数据.(因所使用的计算机之容量大小而定)每一个测量档案可输入及储存公司名称.每个批号可单独执行统计处理.-2-