微聚焦X射CCD平板感应器序:X射线技术是一项成熟的老技术，从1895年德国物理学家伦琴发现X射线(又称伦琴射线)起，对于X射线的研究与应用已经历了100多年的时间。但截至目前，对于X射线***主要的应用大都集中在工业探伤与检测上，其次是***检查和安全检验方面。电子行业及半导体领域的微检测成像，是一项新兴的***应用技术，它对***发生器提出更高的要求，并高度集成了多项工业自动控制软硬件新技术，结合半导体及电子封装工艺特点，把X射线的应用延伸到一个更高的应用领域。它可以解决半导体生产研发中的基片、晶元质量判定问题，可以检测COB(板上芯片封装)、COG(玻璃覆晶封装)的可靠性，也可以分析BGA(球栅阵列封装)、CSP(芯片级封装)的焊接缺陷。日本RF公司采用***新实时成像技术，CCD高密度配置从而使X射线检测数据化，取代原来的胶片方式。像素可达4800万特点:快速实现X射线检查的数字化省去配线的繁琐，直接可在当前环境下立刻进行数字化处理5秒即可生成图像和以往的胶片，以及CR方式不同，仅5秒便可生成图像，并且自动保存图像。快速连续拍照，重拍大幅度降低成本省去胶片，处理液等大量消耗品，以及暗室，排水设备等均不需！在有限的空间中可灵活运用，并发挥其特长。编集简单如同数码相机一样使用方便的X射线装置使用专用软件，在PC端上进行亮度调整，放大显示，实现检测功能等)