薄膜测厚仪
薄膜检测仪经多年研究而开发成功的一种薄膜测量仪器,对各种薄膜可以***测量厚度、均匀性、薄膜弹性模量等,并且可以与计算机连接通讯,实现数据自动处理,从而提高了检验速度,减轻了检测人员的劳动强度。该仪器对环境温度波动不敏感,经济实用,适合于各种薄膜企业的工艺控制和计量检测单位或部门的检测使用。主要参数:型号数显分辨率***大示值误差测量范围BM10-010.1μm&plu***n;(0.4+0.04L)μm0-10mmBM10-0010.01μm&plu***n;(0.1+0.01L)μm0-10mmBM10-00010.001μm&plu***n;(0.03+0.003L)μm0-10mm注:L为光电传感器的实际使用范围(单位:mm),Lmax=10构成:由光电传感器、测量座(标准式或便携式)、抬落机构(电动式、快门线式、手提式)、数显表(参看交流或直流数显表说明)等部分组成。产品特点:检定快速,准确。测量值由数显表直接显示,读数方便可靠,减少人为读数误差(参看交流或直流数显表说明)。独特的设计使仪器结构稳定性很高,温度稳定性很好。测量重复性好,漂移量很小。可实现任意位置清零、公/英制转换、预先置数、自动求***大值和***小值等多种智能功能。可通过与计算机连接通讯实现测量结果的自动记录、自动处理、打印及统计分析等。对环境温度波动相对不敏感,现有基层计量室不必提高温控要求即可使用。可根据用户的特殊需要进行单独设计。)
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