SFT9400系列X射线荧光镀层厚度测量仪产品副名称：可满足所有度层厚度测量需求的双检测器型镀层厚度测量仪产品型号：SFT9400、SFT9450、SFT9455产品特点：★搭载有高功率X射线管及双检测器（半导体检测器+比例计数管）可对应组合复杂的应用程序，特别是可识别Ni和Cu之类能量较为接近的元素。能够对Ni/Cu和Au/Ni/Cu在不使用二次滤波器的情况下进行测量对于含Br的电路板，可以不受Br的干扰对Au的镀层厚度进行高精度的测量可测量0.01μm以下的超薄的Au镀层厚度★搭载块体FP发软件和薄膜FP法软件对应含铅的合金镀膜和多层镀膜等，适用于广泛的运用领域★适用超微小面积的测量标准配备的15μmΦ的准直器，可对超微小面积进行测量。★搭载了可3段切换的变焦距光学系统★拥有防冲撞功能★搭载高精度样品平台，更可测量大型线路板（SFT9455）★搭载激光对焦系统★搭载测试报告自动生成软件产品介绍：SFT9000系列里******的机型「SFT9400系列」搭载有75W高功率X射线管与双检测器（半导体检测器+比例计数管），能满足“薄膜镀层”、“合金镀层”、“超微小面积测量”等镀层厚度测量需求的高性能镀层厚度测量仪。此外，SFT9400系列还在测量镀层厚度的基础上，新增了可对不同被测物体积材料进行定性分析和成分分析的功能。SFT9400系列产品规格型号SFT9400/SFT9450/SFT9455仪器的特长微小面积对应及高性能型可测量元素原子序号22(Ti)~83(Bi)X射线源小型空气冷却型高功率X射线管球(Mo靶)管电压：50kV管电流：1.5mABe窗滤波器一次滤波器：Mo-自动切换二次滤波器：无照射方式上方垂直照射方式检测器半导体检测器+比例计数管(不需液氮的检测器)仪器校正自动校正+手动校正准直器(标准配置)○型(Φ0.015、Φ0.05、Φ0.1、Φ0.2mm)安全性能样品室门锁，样品防冲撞功能样品图像对焦有(激光对焦)样品观察CCD摄像头+倍率光学器+卤素灯照明焦点切换功能3段切换9400：10/40/70mm9450：10/25/40mmX-rayStation台式电脑(OS;MS-WindowsXP?)打印喷墨打印机应用单层、双层、多成分合金薄膜、成分比同时测量、化学镍软件块体FP法软件、薄膜FP法软件测量功能自动测量、中心搜索、图像识别处理修正功能基材修正、已知样品修正、人工输入修正统计处理功能MS-EXCEL报告制作功能MS-WORD联系人:王先生13480994926)