MiniTest1100/2100/3100/4100系列涂层测厚仪产品特点：MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机，各自具有不同的数据处理功能；所有型号均可配所有探头；可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机；可使用一片或二片标准箔校准。技术参数型号1100210031004100MINITEST存储的数据量应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数)111099每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计计算，并可设宽容度极限值)-11099可用各自的日期和时间标识特性的组数-1500500数据总量1100001000010000MINITEST统计计算功能读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar-√√√读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk--√√组统计值六种x,s,n,max,min,kvar--√√组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk--√√存储显示每一个应用行下的所有组内数据---√分组打印以上显示和存储的数据和统计值--√√显示并打印测量值、打印的日期和时间-√√√其他功能设置极限值--√√连续测量模式快速测量，通过模拟柱识别最大最小值--√√连续测量模式中测量稳定后显示读数--√√连续测量模式中显示最小值--√√MiniTest涂层测厚仪可选探头参数所有探头都可配合任一主机使用。在选择最适用的探头时需要考虑覆层厚度，基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。F型探头：测量钢铁基体上的非磁性覆层N型探头：测量有色金属基体上的绝缘覆层FN两用探头：同时具备F型和N性探头的功能探头量程低端分辨率误差最小曲率半径最小测量区域直径最小基体厚度探头尺寸(mm)磁感应法F050-500um0.1um±(1%±0.7um)1/5mm3mm0.2mmφ15x62F1.60-1600um0.1um±(1%±1um)1.5/10mm5mm0.5mmφ15x62F1.6/900-1600um0.1um±(1%±1um)平面/6mm5mm0.5mmφ8x8x170F2/900-2000um0.2um±(1%±1um)平面/6mm5mm0.5mmφ8x8x170F30-3000um0.2um±(1%±1um)1.5/10mm5mm0.5mmφ15x62F100-10mm5um±(1%±10um)5/16mm20mm1mmφ25x46F200-20mm10um±(1%±10um)10/30mm40mm2mmφ40x66F500-50mm10um±(3%±50um)50/200mm300mm2mmφ45x70两用FN1.60-1600um0.1um±(1%±1um)1.5/10mm5mmF0.5mm/N50umφ15x62FN1.6P0-1600um0.1um±(1%±1um)平面30mmF0.5mm/N50umφ21x89FN20-2000um0.2um±(1%±1um)1.5/10mm5mmF0.5mm/N50umφ15x62电涡流法N020-200um0.1um±(1%±0.5um)1/10mm2mm50umφ16x70N.08Cr0-80um0.1um±(1%±1um)2.5mm2mm100umφ15x62N1.60-1600um0.1um±(1%±1um)1.5/10mm2mm50umφ15x62N1.6/900-1600um0.1um±(1%±1um)平面/10mm5mm50umφ13x13x170N20-2000um0.2um±(1%±1um)1.5/10mm5mm50umφ15x62N2/900-2000um0.2um±(1%±1um)平面/10mm5mm50umφ13x13x170N100-10mm10um±(1%±25um)25/100mm50mm50umφ60x50N200-20mm10um±(1%±50um)25/100mm70mm50umφ65x75N1000-100mm100um±(1%±0.3mm)100mm/平面200mm50umφ126x155CN0210-200um0.2um±(1%±1um)平面7mm无限制φ17x80注：F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90为直角探头，用于管内测量。N.08Cr适合铜上铬，FN2也适合铜上铬。CN02用于绝缘体上的有色金属覆层。MiniTest涂层测厚仪探头图示FN1.60～1600μm,φ5mm两用测头，可测铜铁基体上的非磁性覆层与有色金属基体上的绝缘覆层量程低端分辨率很高(O.1μm)FN1.6P0～1600μm,φ30mm两用测头，特别适合测粉末状的覆层厚度FN20～2000μm,φ5mm两用测头，可测铜铁基体上的非磁性覆层与有色金属基体上的绝缘覆层F050～500μm,φ3mm磁性测头，适于测量细小钢铁物体的薄覆层，如金属镀层，氧化层等量程低端分辨宰很高(O.1μm)F1.60～1600μm,φ5mm磁性测头量程低端分辨率很高(O.1μm)F30～3000μm,φ5mm磁性测头可用于较厚的覆层F1.6/900～1600μm,φ5mm90度磁性测头,尤其适合于在管内壁测量量程低端分辨率很高(O.1μm))