MINITEST740涂层测厚仪简单介绍MINITEST740涂层测厚仪采用创新的SIDSP（探头内部数字信号处理）技术提升了测量的精确性，MINITEST740涂层测厚仪测量范围达15mm，可更换F、N或FN探头，且FN探头自动识别F，操作方便不易出错。MINITEST740涂层测厚仪详细信息MINITEST740涂层测厚仪特点：创新的SIDSP（探头内部数字信号处理）技术提升了测量的精确性-测量范围达15mm，可更换F、N或FN探头，供内置或外接探头使用-FN探头自动识别F（铁磁性）或N（非磁性）基体，操作方便不易出错SIDSP技术-全球最新技术，智能数字化的涂层测厚探头模拟信号处理时代已成过去，数字信号处理将成为未来的趋势MINITEST740涂层测厚仪标准配置：带塑料手提箱，内含：-MINITEST720（内置探头）－－或MINITEST730（外置探头）－－或MINITEST740主机（不含探头，有各种探头可选）-校准套装含校准片和零板-操作使用说明CD，德语、英语、法语、西班牙语-2节AA电池MINITEST740涂层测厚仪推荐配件:-F1.5/N0.7/FN1.5探头用测量支架技术数据表SIDSP探头F1.5，N0.7，FN1.5F2F5，N2.5，FN5F15探头特性FNFFNF测量范围0-1.5mm0-0.7mm0-2mm0-5mm0-2.5mm0-15mm使用范围小工件,薄涂层,跟测量支架一起使用粗糙表面标准探头，使用广泛厚涂层测量原理磁感应电涡流磁感应磁感应电涡流磁感应信号处理探头内部32位信号处理（SIDSP）精确度±（1μm+0.75%读值）±（1.5μm+0.75%读值）±（5μm+0.75%读值）重复性±（0.5μm+0.5%读值）±（0.8μm+0.5%读值）±（2.5μm+0.5%读值）低端分辨率0.05μm0.1μm1μm最小曲率半径（凸）1.0mm1.5mm5mm最小曲率半径（凹,外置探头）7.5mm10mm25mm最小曲率半径（凹,内置探头）30mm30mm30mm最小测量面积Φ5mmΦ10mmΦ25mm最小基体厚度0.3mm40μm0.5mm0.5mm40μm1mm连续模式下测量速度每秒20个读数单值模式下最大测量速度每分钟70个读数MINITEST740涂层测厚仪主机MINITEST720MINITEST730MINITEST740型号特性探头类型内置外置内置外置可换数据记忆组数1010100存储数据量10,000个10,000个100,000个统计值读值个数，最小值，最大值，平均值，标准方差，变异系数，组统计值（标准设置/自由配置）校准程序符合国际标准和规范ISO，SSPC，瑞典标准，澳大利亚标准校准模式出厂设置校准，零点校准，2点校准，3点校准，使用者可调节补偿值极限值监控声、光报警提示超过极限测量单位um，mm，cm；mils，inch，thou操作温度-10℃-60℃存放温度-20℃-70℃数据接口IrDA1.0（红外接口）电源2节AA电池标准DINENISO1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840ASTMB244，B499，D7091，E376AS3894.3，SS184160，SSPC-PA2体积157mmx75.5mmx49mm重量约175g约210g约175g（内置）230g（外置）)