势-探头材料:PVDF或PP-可以测量至距离天线下缘50mm的地方-测量精度±5mm-ECHOFOX-信号分析处理，采用先进的模糊逻辑-通过PLICSCOM,HART-编程器或计算机调试-属于plics®产品系列测量范围达20米过程连接G1½A螺纹,龙门框或法兰过程温度-40...80°C过程压力-1…+3bar(-100…+300kPa)测量精度±5mm发射频率K-频段势-探头材料:PVDF或PP-可以测量至距离天线下缘50mm的地方-测量精度±5mm-ECHOFOX-信号分析处理，采用先进的模糊逻辑-通过PLICSCOM,HART-编程器或计算机调试-属于plics®产品系列测量范围达20米过程连接G1½A螺纹,龙门框或法兰过程温度-40...80°C过程压力-1…+3bar(-100…+300kPa)测量精度±5mm发射频率K-频段势-探头材料:PVDF或PP-可以测量至距离天线下缘50mm的地方-测量精度±5mm-ECHOFOX-信号分析处理，采用先进的模糊逻辑-通过PLICSCOM,HART-编程器或计算机调试-属于plics®产品系列测量范围达20米过程连接G1½A螺纹,龙门框或法兰过程温度-40...80°C过程压力-1…+3bar(-100…+300kPa)测量精度±5mm发射频率K-频段势-探头材料:PVDF或PP-可以测量至距离天线下缘50mm的地方-测量精度±5mm-ECHOFOX-信号分析处理，采用先进的模糊逻辑-通过PLICSCOM,HART-编程器或计算机调试-属于plics®产品系列测量范围达20米过程连接G1½A螺纹,龙门框或法兰过程温度-40...80°C过程压力-1…+3bar(-100…+300kPa)测量精度±5mm发射频率K-频段势-探头材料:PVDF或PP-可以测量至距离天线下缘50mm的地方-测量精度±5mm-ECHOFOX-信号分析处理，采用先进的模糊逻辑-通过PLICSCOM,HART-编程器或计算机调试-属于plics®产品系列测量范围达20米过程连接G1½A螺纹,龙门框或法兰过程温度-40...80°C过程压力-1…+3bar(-100…+300kPa)测量精度±5mm发射频率K-频段势-探头材料:PVDF或PP-可以测量至距离天线下缘50mm的地方-测量精度±5mm-ECHOFOX-信号分析处理，采用先进的模糊逻辑-通过PLICSCOM,HART-编程器或计算机调试-属于plics®产品系列测量范围达20米过程连接G1½A螺纹,龙门框或法兰过程温度-40...80°C过程压力-1…+3bar(-100…+300kPa)测量精度±5mm发射频率K-频段势-探头材料:PVDF或PP-可以测量至距离天线下缘50mm的地方-测量精度±5mm-ECHOFOX-信号分析处理，采用先进的模糊逻辑-通过PLICSCOM,HART-编程器或计算机调试-属于plics®产品系列测量范围达20米过程连接G1½A螺纹,龙门框或法兰过程温度-40...80°C过程压力-1…+3bar(-100…+300kPa)测量精度±5mm发射频率K-频段势-探头材料:PVDF或PP-可以测量至距离天线下缘50mm的地方-测量精度±5mm-ECHOFOX-信号分析处理，采用先进的模糊逻辑-通过PLICSCOM,HART-编程器或计算机调试-属于plics®产品系列测量范围达20米过程连接G1½A螺纹,龙门框或法兰过程温度-40...80°C过程压力-1…+3bar(-100…+300kPa)测量精度±5mm发射频率K-频段)