星弧涂层薄膜涂层测厚仪-Starspheric-02是一款可用于各种薄膜和涂层厚度的测量仪器，所测量的涂层不受成份、硬度等各种因素的限制。它的操作简单，维护成本较其它类型的测厚仪更低。Starspheric-02膜厚测量原理是通过磨球在膜层上磨制成球面并测量球面的半径从而计算出膜层的厚度。测厚仪由球磨机构、高倍显微镜、微电脑及测试软件组成。功能和技术特性●测量厚度：>100nm●实用膜层:各种单一和复合膜层，如类金刚石DLCTiX等硬涂层、SiN和Si02、陶瓷或电镀涂层●中文测量软件界面●尺寸:450X400mm●其他功能:膜层耐磨性测厚仪主要部件●球磨机构●高倍测量显微镜(350倍）●微电脑及中文界面的测量软件测厚原理)