X射线荧光光谱仪 EDX2800
针对RoHS检测设计开发测量***如金、银、铂等效果甚佳分析测量微量***元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br提供***玩具安全检测,亦可用于测量镀层厚度和全元素分析ROHS指令检测主要技术指标测量元素:从硫至铀等75种元素元素含量分析范围:1ppm-99.99%RoHS指令规定的***元素(限Cd/Pb/Cr/Hg/Br)检测限***高达1ppm测量时间:60-300s能量分辨率为:160&plu***n;5eV高压:5-50kV管流:50-1000uA温度适应范围:15-30℃电源:交流220&plu***n;5V(建议配置交流净化稳压电源)重量:60kg自动选择滤光片多种准直器自动自由切换电制冷硅针半导体探测器加强的金属元素感度分析器三重安全保护模式相互***的基体效应校正模型多变量非线性回归程序任意多个可选择的分析识别模型一次可同时分析24个元素析仪器基本配置信噪比增强器自动切换准直器和滤光片,分别针对不同样品独特的光路增强系统,方便用户更好地观察样品测量RoHS,电镀镀层,全元素分析,一机多用电制冷硅针半导体探测器,摒弃液氮制冷特别开发的测量软件,操作界面十分友好内置高清晰摄像头,方便用户随时检测样品精准的移动平台,更***方便地调节样品位置***时尚的外型,带给您全新的视觉冲击样品腔尺寸:605mm*395*70mm)
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