CMI760PCB专用铜厚测试仪CMI760：高灵活性的铜厚测试仪牛津仪器测厚仪器CMI760专为满足印刷电路板行业铜厚测量和质量控制的需求而设计。CMI760可用于测量表面铜和穿孔内铜厚度。这款高扩展性的台式测厚仪系统能采用微电阻和电涡流两种方法来达到对表面铜和穿孔内铜厚度准确和***的测量。CMI760台式测量系统具有非常高的多功能性和可扩展性，对多种探头的兼容使其满足了包括表面铜、穿孔内铜和微孔内铜厚度的测量、以及孔内铜质量测试的多种应用需求。同类型产品价格***优同时CMI760具有***的统计功能用于测试数据的整理分析。SRP-4面铜探头测试技术参数：铜厚测量范围：化学铜：10μin–500μin(0.25μm–12.7μm)电镀铜：0.1mil–6mil(2.5μm–152μm)线形铜可测试线宽范围：8mil–250mil(203μm–6350μm)***度：化学铜：标准差0.2%；电镀铜：标准差0.5%分辨率：0.01mils≥1mil,0.001mils<1mil,0.1μm≥10μm,0.01μm<10μm,0.001μm<1μmETP孔铜探头测试技术参数：可测试***小孔直径：35mils(899μm)测量厚度范围：0.08–4.0mils(1–102μm)电涡流原理：遵守ASTM-E376-96标准的相关规定***度：1.2mil（30μm）时，达到1.0%（实验室情况下）分辨率：0.01mils(0.1μm)TRP-M（微孔）探头测试技术参数：***小可测试孔直径范围：10–40mils(254–1016μm)孔内铜厚测试范围：0.5-2.5mils（12.7-63.5μm）***大可测试板厚：175mil（4445μm）***小可测试板厚：板厚的***小值必须比所对应测试线路板的***小孔孔径值高3mils(76.2μm)准确度（对比金相检测法）：&plu***n;0.01mil(0.25μm)<1mil(25μm)&plu***n;10%≥1mil(25μm)***度：不建议对同一孔进行多次测试分辨率：0.01mil(0.1μm)显示6位LCD数显测量单位um-mils可选统计数据平均值、标准偏差、***大值max、***小值min接口232串口,打印并口电源AC220仪器尺寸290x270x140mm仪器重量2.79kg配置ECP探头测量导体上覆盖的非导体(绿油)测量范围厚度为:0--1000um)