薄膜测厚仪
ST2000-DLXn·***优惠的价格·适合大学和科研中心尺寸190x265x316mm重量12Kg类型手动的测量样本大小≤4"测量方法非接触式测量原理反射计特征测量迅速,操作简单非接触式,非***方式***的重复性和再现性用户易操作界面每个影像打印和数据保存功能可测量多达3层可背面反射活动范围150x120mm(70x50mm移动距离)测量范围200Å~35㎛(根据膜的类型)光斑尺寸20㎛典型值测量速度1~2sec./site应用领域聚合体:PVA,PET,PP,PR...电解质:半导体:Poly-Si,GaAs,GaN,InP,ZnS...选择参考样品(K-MACorKRISSorNIST)探头类型三目探头nosepieceQuadrupleRevolvingMechani***withInwardTilt照明类型12V35WHalogenLampBuilt-inControlDevice&Transformer)