镀层测厚仪CMI900
仪器介绍CMI900X射线荧光镀层测厚仪,有着非***,非接触,多层合金测量,高生产力,高再现性等优点,在质量管理到不良品分析有着广泛的应用。用于电子元器件,半导体,PCB,汽车零部件,功能性电镀,装饰件,连接器等多个行业。主要特点样品种类:镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)可检测元素范围:Ti22–U92可同时测定5层/15种元素精度高、稳定性好强大的数据统计、处理功能测量范围宽NIST认证的标准片***服务及支持)
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