HP4278AHP4278AHP4278AHP4278A电桥姚生15994778006★测量速度:6.5ms/10ms/21ms★测量参数:C-D,Q,ESR,G★C-D测量精度:0.07%,0.0005(1kHz,21ms)★0.05%,0.0002(1MHz,21ms)Agilent4278A1kHz/1MHz电容测试仪是一台高速高可靠的精密测试仪器，用于生产线和质量控制中作电容器的进出厂检。Agilent4278A能改善小电容量和中等电容器的测试效率（可测量以200μF，这个电容量能容纳多数陶瓷和薄膜电容器的数据值）。技术指标：测量参数C-D，Q，ESR，G测试信号频率：1kHz和1MHz&plu***n;0.02%信号电平：0.1~1Vrms,&plu***n;10%(C≤20μf),以0.1Vrms步进测量时间：6.5ms/10ms/21ms(典型值）测量范围测量参数1kHz1MHz正常模式1MHz高精度C0.01pF~200.000μF0.00001pF~1280.00pF0.00004pF~2663.00pFD0.00001~9.999990.00001pF~9.999990.00001pF~0.99999电缆长度补偿0,1或2m比较器：对电容的10仓室分类，对D、Q、ESR和G的合格/不合格测试存储卡插槽外部存储器的存储卡插槽用于对控制设置和比较极限进行分类和调用（存储卡可任选，参见下面的选件004）。一般技术指标：工作温度/湿度5°~45℃，在40℃时相对湿度为95%电源100,120,220Vac&plu***n;10%,240Vac+5-10%,48~66Hz,200VAmax尺寸约426mm(宽）*177mm(高）*498mm(长）（16.77英寸*6.97英寸*19.61英寸)重量：约15kg(33磅，标准）订货信息：·4278A1kHz/1MHz电容测试仪OptW30扩大的维修服务Opt001只1kHz测试频率Opt002只1MHz测试频率Opt0031%的频率漂移；要防止当元件测试接触靠近测试装置时可能出现的测试信号干扰Opt004存储卡Opt005-1%频率漂移Opt006+2%频率漂移Opt101GPIB兼容性Opt201处理器接口Opt202处理器接口Opt301扫描器接口可提供的附件：16270A存储卡套件)