显微镜的重要光学技术参数放大率放大率就是放大倍数，是指被检验物体经物镜放大再经目镜放大后，人眼所看到的终图像的大小对原物体大小的比值，是物镜和目镜放大倍数的乘积。显微镜的重要光学技术参数焦深焦深为焦点深度的简称，当焦点对准某一物体时，不仅位于该点平面上的各点都可以看清楚，而且在此平面的上下一定厚度内，也能看得清楚，这个清楚部分的厚度就是焦深。焦深大,可以看到被检物体的全层，而焦深小，则只能看到被检物体的一薄层。显微镜头大发展1886年,Zeiss(蔡司)打破一般可见光理显微镜镜头大发展1886年，Zeiss(蔡司)打破一般可见光理论上的极限，其发明的阿比式及其他一系列的镜头为显微学开启了新的天地。我们熟知的蔡司镜头便始于之后的1890年，作为150年传统的镜头企业，在***系列、双眼镜、相机镜头、扩大镜、眼镜、天象仪等光学设备领域里声名远播。架干涉显微镜1930年，Lebedeff(莱比戴卫)研制了架干涉显微镜。Zernicke(卓尼柯)在1932年发明出相位差显微镜，两人将传统光学显微镜延伸发展出相位差观察法。这一观察方法使生物学家得以观察染色上的种种细节。透射电子显微镜在材料科学、生物学上应用较多透射电子显微镜在材料科学、生物学上应用较多。由于电子易散射或被物体吸收，故穿透力低，样品的密度、厚度等都会影响到后的成像质量，必须制备更薄的超薄切片，通常为50～100nm。所以用透射电子显微镜观察时的样品需要处理得很薄。常用的方法有：超薄切片法、冷冻超薄切片法、冷冻蚀刻法、冷冻断裂法等。对于液体样品，通常是挂预处理过的铜网上进行观察。然而，这些操作都是相当复杂的，而且本身TEM的操作系统、冷却系统、预热过程、***维护都非常复杂，仪器本身也相当精密且贵重，更何况大多数情况下我们不须要观察到如此细小的尺寸，故TEM实际应用的并不多，可能只在物理学或者纳米领域应用较多。)