CMI做为***品牌在PCB及电镀行业已形成一个行业标准，华南地区90%以上的大型企业都在使用CMI900系列做为检测镀层厚度的行业工具X-荧光镀层测厚仪CMI900金属镀层厚度的***测量CMI900系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、***含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、快速的分析.基于WindowsXP中文视窗系统的中文版***artLinkFP应用软件包，实现了对CMI900主机的***自动化控制，技术参数：CMI900X-射线荧光镀层厚度测量仪,在技术上一直以来都***于全世界的测厚行业ACMI900能够测量包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,极薄的浸液镀层（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定***多5层、15种元素。B：***度***于世界，***到0。025um(相对与标准片)C：数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求；如在分析报告中插入数据图表、测***置的图象、CAD文件等。D：统计功能提供数据平均值、误差分析、***大值、***小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。CMI900系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状各种尺寸的样品；E：可测量任一测量点，***小可达0.025x0.051毫米样品台选择：CMI900系列采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用，分别为：一：手动样品台1标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。2扩展型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。3可调高度型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。二：自动样品台1程控样品台：XYZ轴自动控制。2超宽程控样品台：XYZ轴自动控制。CMI900主要技术规格如下：No.主要规格规格描述1X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统空冷式微聚焦型X射线管，Be窗标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准X射线管功率可编程控制装备有安全防射线光闸2滤光片程控交换系统根据靶材，标准装备有相应的一次X射线滤光片系统二次X射线滤光片：3个位置程控交换，Co、Ni、Fe、V等多种材质、多种厚度的二次滤光片任选位置传感器保护装置，防止样品碰创探测器窗口3准直器程控交换系统***多可同时装配6种规格的准直器，程序交换控制多种规格尺寸准直器任选：－圆形，如4、6、8、12、20mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等4测量斑点尺寸在12.7mm聚焦距离时，***小测量斑点尺寸为：0.078x0.055mm(使用0.025x0.05mm准直器)在12.7mm聚焦距离时，***大测量斑点尺寸为：0.38x0.42mm(使用0.3mm准直器)5X射线探测系统封气正比计数器装备有峰漂移自动校正功能的高速信号处理电路6样品室CMI900－样品室结构开槽式样品室－***大样品台尺寸610mmx610mm－XY轴程控移动范围标准：152.4x177.8mm任选：50.8mmx152.4mm50.4mmx177.8mm101.6x177.8mm177.8x177.8mm610mmx610mm－Z轴程控移动高度43.18mmXYZ程控时，152.4mmXY轴手动时，269.2mm－XYZ三轴控制方式多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制)