奥林巴斯科研级正置系统显微镜BX51/BX51M-IR●近红外外透射反射观察用显微镜●5X到10X红外镜头,像差校正本涵盖从可见光到近红外整个波段●晶圆，化合物半导体的内部，封装芯片内部以及CSPbump观察适宜主要特点：１、UIS无限远校正光学系统，提供出色的图像质量２、人机工程学的进一步改善，使操作更为舒适３、多种高度功能化的附件，能满足各种检验需要)