应用CMI900X射线荧光镀层测厚仪，有着非***，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量，从质量管理到成本节约有着广泛的应用。行业用于电子元器件，半导体，PCB，汽车零部件，功能性电镀，装饰件，连接器……多个行业表面镀层厚度的测量。主要规格规格描述X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统空冷式微聚焦型X射线管，Be窗标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选装备有安全防射线光闸二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选准直器程控交换系统***多可同时装配6种规格的准直器多种规格尺寸准直器任选：－圆形，如4、6、8、12、20mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等测量斑点尺寸在12.7mm聚焦距离时，***小测量斑点尺寸为：0.078x0.055mm(使用0.025x0.05mm准直器)在12.7mm聚焦距离时，***大测量斑点尺寸为：0.38x0.42mm(使用0.3mm准直器))