
半导体影像测量仪
性能特点:1.采用花岗石底座、立柱、高硬度合金台面支架,重量轻,稳定性高2.X、Y轴采用快速马达双向快速移动,同时具有手动微调控制功能3.X、Y轴采用中间传动的方式,工作台不会出现左右摇摆或摆尾现象4.Z轴采用交叉导轨加配重的全新设计,镜头上下升降受理均衡,确保精度5.选配的偏光模组可以确保优越的影像效果,使系统扩展更加灵活、简便型号HF-NC542HF-NC652HF-NC772测量行程(X/Y/Z)500×400×200(mm)600×500×200(mm)700×700×200(mm)机台尺寸(长/宽/高)1600×1400×1600(mm)1730×1500×1600(mm)1980×1620×2000(mm)机台承重30KG机台底座、立柱材料为高精度花岗石光源材质LED冷光源精度(3+L/200)um放大倍率光学放大率:0.7X-4.5X,影像放大率:28X-180X光学尺解析度1um重复性2um操作方式马达控制结合手动微调显示器17"液晶电源供给110/220±10%适宜温度、湿度温度:20±5℃湿度:55%-65%保修期一年)