SurfixBN膜厚仪特点：适合有色金属材上的膜厚测量，分体式世界最新科技，手机外形，最小测面积菜单操作，分辨率0.1µm，两类基体自动识别量程：0-1500µm，0-60mils，90°直角探头九种规格，统计值在线显示德国PHYNIX公司制造。SurfixBN膜厚仪技术参数：测量范围0-1500µm,0-60mils误差1µm或1%读数分辨率0.1µm或<测量读值的2%显示背景照明，四位读数显示，两行统计数字显示，英文操作指南基体最小面积5mmX5mm基体最小曲率凸面：1.5mm凹面：5mm基体最小厚度F型：0.2mm,N型：50µm校准厂家校准，零校准，校准箔校准数据统计（仅限统计型）读数个数（最多9999个），平均值，标准偏差，最大值和最小值数据存储（仅限统计型）最多200个测量数值,可单独调出数据值（仅限统计型）上下限可调,声音报警数据接口红外通讯,IrDA标准环境温度/表面温度0-50℃/150℃电源2节1.5伏AA碱性干电池仪器尺寸137x66x23符合标准DIN，ISO，ASTM，BS)