高温条件下陶瓷电容器击穿机理：半密封陶瓷电容器在高湿度环境条件下工作时，发生击穿失效是比较普遍的严重问题。由于陶瓷电容器银的迁移，陶瓷电容器的电解老化击穿已成为相当普遍的问题。热击穿现象多发生在管形或圆片形的小型瓷介质电容器中，因为击穿时局部发热严重，较薄的管壁或较小的瓷体容易烧毁或断裂。潮湿对电参数恶化的影响：空气中湿度过高时，水膜凝聚在电容器外壳表面，可使电容器的表面绝缘电阻下降。此外，对于半密封结构电容器来说，水分还可渗透到电容器介质内部，使电容器介质的绝缘电阻绝缘能力下降。对于有任何电容器产品需求的客户朋友请与我们联系，苏州春发电子有限公司将为您提供的产品服务。陶瓷电容的保质期很多商品都会有一个保质期，产品也会有自己的一个使用寿命。那么陶瓷电容保质期有多久呢？相信很多电子爱好者都想知道。今天苏州春发电子的小编就来和大家一起来聊聊有关于陶瓷电容的保质期问题。的生产设备，所生产的产品品质优良，获得国际产品认证，保证了年生产能力达上亿只的水平。首先我们知道陶瓷电容主要材料是瓷片，瓷片是陶瓷粉末加压冲片后经过上千度高温烧结而成，随时间推移，外观是不会变化的，所以保存期是无限期，永1久的。但由于瓷介电容器所采用的大多数是二类陶瓷介质，都具有铁电特性并呈现出一个居里温度特性。因此，陶瓷电容有老化衰减现象。介质在实际陶瓷中通常被扩大到一个有限的温度范围之内，但在所有的情况下，它是电容量在温度曲线上的某一个峰值。在热波动的影响下，介质冷却至居里温度之后的很长一段时间内，晶体点阵中的离子会连续运动到势能较小的位置，这就引起了电容量老化现象。电容器在电源中的应用之浪涌电压保护开关频率很高的现代功率半导体器件易受潜在的损害性电压尖峰脉冲的影响。跨接在功率半导体器件两端的浪涌电压保护电容器通过吸收电压脉冲限制了峰值电压，从而对半导体器件起到了保护作用，使得浪涌电压保护电容器成为功率元件库中的重要一员。半导体器件的额定电压和电流值及其开关频率左右着浪涌电压保护电容器的选择。由于这些电容器承受着很陡的DV/DT值，因此，对于这种应用而言，薄膜电容器是恰当之选。向陶瓷电容器施加超过其额定电压的电压，会导致短路故障还是开路故障一般来说，向电容器施加过量电压后都会导致短路故障。片状独石陶瓷电容器的损坏电压为其额定电压的5~10倍以上，稍高于额定电压的外加电压很难对电容器造成瞬间损坏。但在使用中如向电容器施加的电压超过其额定电压，则不在保修范围之内。电容器的电压加速和温度加速通过电压加速与温度加速系数可推算出电容器的使用寿命。可将产品使用时的外部环境温度及施加电压作为参数进行公式化。一般来说，阿列纽斯法则被广泛用于加速公式中，而我们运用以下公式便可简单地进行推算。47_01cn.PNG在此公式的基础上，通过在更为严苛的条件(更高温、更高电压)下进行加速试验，可推算出产品在实际使用环境下的使用寿命。在此，我们一起来比较一下独石陶瓷电容器的加速试验与实际产品使用的假定环境。我们将电容器的加速试验中将耐久试验时间视为LA，将实际使用环境下的相当年数视为LN，用于上述公式。耐久试验条件假定使用环境电压加速系数温度加速系数相应年限TA＝85°CVA＝20VLA＝1000hTN＝65°CVN＝5Vn＝4θ＝8LN＝？h这样，我们即可通过在85°C、施加20V电压的环境下进行了1000h的耐久试验，推算出在5°C、施加5V电压的环境下产品使用年限为1448155h(≒165年！)。计算中使用的电压加速系数、温度加速系数会由陶瓷材料的种类及构造产生不同，但通过加速计算公式可在相对较短的时间内利用试验结果来验证长时间的实际使用环境中的产品使用寿命。)