显微镜的重要光学技术参数数值孔径数值孔径简写NA，是物镜和聚光镜的主要技术参数，是判断两者光学性能高低的重要标志。数值孔径是物镜前透镜与被检物体之间介质的折射率（η）和孔径角（u）半数的正玄之乘积。显微镜的重要光学技术参数孔径角越大，进入物镜的光通亮就越大，它与物镜的有效直径成正比，与焦点的距离成反比。显微镜观察时，若想增大NA值，孔径角是无法增大的，办法是增大介质的折射率η值。显微镜的重要光学技术参数为了充分发挥物镜数值孔径的作用，聚光镜NA值应等于或大于物镜的NA值，数值孔径与其它技术参数有着密切的关系，它几乎决定和影响着其它各项技术参数。它与分辨率成正比，与放大率成正比，与焦深成反比，NA值增大，视场宽度与工作距离都会相应地变小。焦深与其它技术参数有以下关系焦深与其它技术参数有以下关系：1、焦深与总放大倍数及物镜的数值孔镜成反比。2、焦深大，分辨率降低。由于低倍物镜的景深较大，所以在低倍物镜照相时造成困难。显微镜的重要光学技术参数视场直径观察显微镜时，所看到的明亮的原形范围叫视场，它的大小，是由目镜里的视场光阑决定的。视场直径也称视场宽度，指在显微镜下看到的圆形视场内所能容纳被检物体的实际范围。其中，视场直径与视场数成正比，增大物镜的倍数，则视场直径减小。带你了解现代科研中的显微镜SEM扫描电子显微镜扫描电子显微镜（scanningelectronmicroscope，SEM）放大倍数（不同型号有差异）约2~200000，连续可调，分辨率可达几纳米。带你了解现代科研中的显微镜SEM主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态，即用极狭窄的电子束去扫描样品，通过电子束与样品的相互作用产生各种效应【当一束极细的高能入射电子轰击扫描样品表面时，被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特征x射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子，以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。同时可产生电子-空穴对、晶格振动（声子)、电子振荡（等离子体）】，其中主要是样品的二次电子发射。二次电子能够产生样品表面放大的形貌像，这个像是在样品被扫描时按时序建立起来的，即使用逐点成像的方法获得放大像。偏光镜检术的方式及要求偏光镜检术的方式正相镜检：又称无畸变镜检，其特点是使用低倍物镜，不用伯特兰透镜，同时为使照明孔径变小，推开聚光镜的上透镜。正相镜检用于检查物体的双折射性。锥光镜检：又称干涉镜检，这种方法用于观察物体的单轴或双轴性。显微镜的分类和特点偏光显微镜在装置上的要求1、光源：采用单色光，因为光的速度，折射率和干涉现像因波长的不同而有差异。2、目镜：要带有十字线的目镜。3、聚光镜：为了取得平行偏光，应使用能推出上透镜的摇出式聚光镜。4、伯特兰透镜：这是把物体所有造成的初级相放大为次级相的辅助透镜。)