大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！测量示例：SiO2SiN[FE-0002]的膜厚测量半导体晶体管通过控制电流的导通状态来发送信号，但是为了防止电流泄漏和另一个晶体管的电流流过任意路径，有必要隔离晶体管，埋入绝缘膜。SiO2（二氧化硅）或SiN（氮化硅）可用于绝缘膜。SiO2用作绝缘膜，而SiN用作具有比SiO2更高的介电常数的绝缘膜，或是作为通过CMP去除SiO2的不必要的阻挡层。之后SiN也被去除。为了绝缘膜的性能和精准的工艺控制，有必要测量这些膜厚度。膜厚仪如何系统校准?校准的方法、种类，这是新用户经常会遇到的问题。系统校准、零点校准还有两点校准其实都已经在说明书上写到了，用户只需仔细阅读就可以了。需要注意的是：在校准铁基时1好是多测量几次以防止错误操作;系统校准的样片要按照从小到大的顺序进行。如果个别标准片丢失可以找与其数值相近的样片代替。1.膜厚测试仪出现下列情况，必需重新校准。·校准时，输入了一个错误值；·操作错误。2.在直接方式下，如果输入了错误的校准值，应紧接着做一次测量，随后再做一次校准，即可获取新值消除错误值。3.每一组单元中，只能有一个校准值。4.零点校准和二点校准都可以重复多次，以获得更为精准的校准值，提高测量精度但此过程中一旦有过一次测量，则校准过程便告结束。)