
X射线荧光光谱分析仪
第三代新型GY-MARS/TX射线荧光光谱分析仪,该款仪器***化设计,双套高品质水循环制冷系统,***工作,更适合高温度区域使用。测量窗体积增大1.5倍,更利于大体积物品测量。配备***商务戴尔电脑,运算速度更快,更准确。仪器特点无损检测,在无标准样品时亦可准确分析***的数据分析方法,使测量结果更加***测量时间短,不需要其他辅助材料置式计算机进行数据处理,分析快速准确高分辨率图形即时显示,由彩色模块加以区分判断技术指标外壳尺寸:630mm*440mm*380mm测量窗尺寸:400mm*260mm*110mm重量:约40Kg适宜温度:5-30℃相对湿度:≤80%元素分析范围:钾(K)到铀(U)含量分析范围:为2PPm到3000ppm测量时间:60-300秒(任意调整)分辨率:149--186eVFWHM@5.9KeV电源:交流220V&plu***n;5V或110V&plu***n;5V电源频率:47-63Hz高压输入:+24Vdc+-10%,4.0A(***大)高压输出:0-50KV@1mA***大功率50W二、硬件部分主体配置1、电制冷硅针探测器美国Amptek公司生产2、***射线管英国牛津生产3、高压电源美国spellman公司生产4、DP4数字脉冲处理器美国Amptek公司生产)