
镀层膜厚仪-测厚仪-一六仪器(查看)
江苏一六仪器我们***的研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名***通力合作,研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、***的解谱方法和EFP算法结合精准***及变焦结构设计,解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。-样品观察系统高分辨、彩色、实时CCD观察系统,标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。激光辅助光自动对焦功能可变焦距控制功能和固定焦距控制功能7计算机系统配置IBM计算机:1.6G奔腾IV处理器,256M内存,1.44M软驱,40G硬盘,CD-ROM,鼠标,键盘,17寸彩显,56K调制解调器。惠普或爱普生彩色喷墨打印机。8分析应用软件操作系统:Windows2000中文平台中文分析软件包:***artLinkFP软件包江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。我们***的研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名***通力合作,研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、***的解谱方法和EFP算法结合精准***及变焦结构设计,解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题目前,金属镀层常用的分析方法有湿化学电解分析、辉光放电---发射光谱分析(GD-OES)和X射线荧光光谱仪等。湿化学电解分析需选用适当溶剂溶解选定的镀层,逐层溶解并进行测定,方法准确但费时费力,尤其是相关特定溶剂的选择也非常复杂,价格又贵,属于典型***性样品检测,测量手段手段繁琐,测厚仪,速度慢,电解液耗损大,目前一般很少应用。GD-OES方法用惰性原子逐层轰击及剥离试样表层,再用发射光谱测定,这种方法可实现剖面或逐层分析,但测量重复性并不理想。江苏一六仪器X射线荧光镀层测厚仪电镀液测量杯整套含两个测量杯,光谱测厚仪,可用于多品牌X-RAY测厚仪上使用,镀层测厚仪,高纯元素本底提高测量精度和检出限。电镀液测试样品杯,严格控制了容量和溢出物的处理,用来测试溶液中金属离子的浓度;使用方便简捷,无污染。测试膜,又名X射线荧光光谱仪样品薄膜,镀层膜厚仪,迈拉膜,麦拉膜,XRF测试薄膜,XRF样品膜,样品薄膜,EDX薄膜,EDX样品薄膜,ROHS检测膜,光谱仪样品薄膜;是应用于X荧光光谱仪的用于保留液体、粉末、泥浆或固体样本在样本杯内的物质。专用样品薄膜是使用方便简捷,无污染的测试用样品薄膜,广泛应用于Elite、fischer、牛津、博曼、先锋、日立、天瑞等各种品牌的EDX/XRF光谱仪。镀层膜厚仪-测厚仪-一六仪器(查看)由江苏一六仪器有限公司提供。江苏一六仪器有限公司拥有很好的服务与产品,不断地受到新老用户及业内人士的肯定和信任。我们公司是商盟认证会员,点击页面的商盟***图标,可以直接与我们***人员对话,愿我们今后的合作愉快!)