20阶OECF灰阶卡正印科技***销售图像测试卡，以下信息由正印科技为您提供。产品特点：此卡遵照ISO14524:OECF测试标准，包括20级环形灰阶。有反射式和透射式可供选择。透射式：-尺寸:13.5cm*24cm（16：9）-对比度：1000000：1，10000：1，1000：1可选-配件包含出厂密度文件反射式：-尺寸：1x20cm*35.6cm(16:9);2x40cm*71.1cm(16:9)-对比度：160：1，80：1，40：1可选分辨率测试卡(斜边ISO12233:2014)简介分辨率测试卡TE275设计用于使用斜边测量静态相机的分辨率。在TE268和TE253（正弦西门子星）和TE252（分辨率的视觉评估）旁边，斜边是ISO12233标准中描述的用于分辨率测量的第三种模式。分辨率测试卡TE275包含九个斜边结构，每个具有两个垂直和两个水平边缘，并且在中心具有聚焦辅助。倾斜边缘结构倾斜5°，并具有ISO12233：2014要求的低对比度（调制在0.55和0.65之间）。背景根据ISO12233：2014提供0.15和0.25之间渐变。注意：应使用经过校正的显示器，并且ColorChecker色卡应置于可控制照明条件的标准光源下。斜边以一种方式布置，以在轴向信息上递送50％场位置（4:3纵横比）和70％场位置处的信息。想了解更多关于图像测试卡的相关资讯，请持续关注本公司。ISO12233:2014eSFR分辨率测试卡简介SineImageeSFR分辨率测试卡配合软件可以自动计算几个关键图像质量因素包括锐度、横向色差、阶调反应、色彩反应及噪点。与低反差EdgeSFR规格完全相容，新的标准为ISO12233:2014取代了2000标准，因为之前使用高反差测试图容易引起出界或量度误差，也缺少渐进组别评定系统的阶调反应，并且只有少量功能适用于自动分析。SineImageeSFR分辨率测试卡的设计基于ISO12233:2014定义的低反差edgeSFR规格。测试卡有以下三种版本：标准版：基础的功能增强版：增加了额外的正方形、楔形和色彩图案想要了解更多正印科技的相关信息，欢迎拨打图片上的***电话！分辨率测试卡分辨率测试卡，也叫JIMA卡，JIMA分辨率测试卡，用于测量X射线系统的分辨率，以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。正印科技——***供应图像测试卡，我们公司坚持用户为上帝，想用户之所想，急用户之所急，以诚为本，讲求信誉，以产品求发展，以质量求生存，我们热诚地欢迎各位同仁合作共创辉煌。)