半导体模块老化测试夹具该系列夹具适用于C2型半导体模块的老化、测试、筛选及可靠性试验作连接之用。产品广泛运用于航空航天、***、科研院所、电子、通讯.产品规格型号：C2型主要技术指标；适应环境温度；-55℃—+155℃工作电压；DC1200V探针金层厚度；4umAu:lu(镍金）)