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JX2811过零检测
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JX2811是采用***的0.6微米工艺生产的过零检测芯片,以过零检测的方式利用可控硅来控制电阻性负载。其中的斜波信号发生器允许用户通过外部零件调整可控硅的触发时间。)
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