偏光镜检术的方式及要求偏光镜检术的方式正相镜检：又称无畸变镜检，其特点是使用低倍物镜，不用伯特兰透镜，同时为使照明孔径变小，推开聚光镜的上透镜。正相镜检用于检查物体的双折射性。锥光镜检：又称干涉镜检，这种方法用于观察物体的单轴或双轴性。显微镜的分类和特点偏光显微镜在装置上的要求1、光源：采用单色光，因为光的速度，折射率和干涉现像因波长的不同而有差异。2、目镜：要带有十字线的目镜。3、聚光镜：为了取得平行偏光，应使用能推出上透镜的摇出式聚光镜。4、伯特兰透镜：这是把物体所有造成的初级相放大为次级相的辅助透镜。电子显微镜(scanningprobemicroscope)现今的电子显微镜和扫描探针显微镜（scanningprobemicroscope，SPM）具有极高的分辨率，可以“看到”单个原子和化学键，这一尺度范围大概为0.5埃（1埃为0.1纳米，等于10-10米）。以这种分辨率来观察材料，如石墨烯、催化剂和氧化物等，能够揭示这些材料的结构，以及晶体缺陷对材料性质的影响。真正理解材料的化学和物理性质为了真正理解材料的化学和物理性质，我们需要更加地绘制出原子的排列方式。1959年，物理学家理查德·费曼（RichardFeynman）在美国物理学会演讲时提到，“在尺度范围来观测材料，有非常多的应用空间”。这里的尺度，费曼将其设定为0.1埃，当显微镜的分辨率达到0.1埃后，受原子热振动的限制，显微图像就会到达物理极限。小的结构变形会影响磁性、化合价和自旋态（spinstate），而分辨率达到极限后，结构变形就会变得明显。SPM像扫描隧道显微技术SPM像扫描隧道显微技术（scanningtunnellingmicroscopy）一样，通过测量两者之间的电流，或者像原子力显微镜一样，通过测量两者间微小的作用力，来获取表面的结构图像。探针与材料表面的相互作用要受到基础物理学定律的约束，这会限制SPM可达到的分辨率，尽管如此，新型低噪声设备对表面原子的位移和键长变化的测量数值，误差要小于10皮米（pm，1pm=10-12m）。)