一六荧光测厚仪十年以上研发团队集研发生产销售一体元素分析范围:氯(CI)-铀(U)厚度分析范围:各种元素及有机物一次可同时分析:23层镀层,24种元素厚度检出限:0.005umX荧光测厚仪可调整测量位置，非常敏捷快速。或是测量位置已完成登陆时，可连续自动测定，利用座标补正、连结频道，来应付各种测量轨迹。亦可用自动测定来作标准片校正。测定部显示尽像的表示：***照射部可由WINDOWS画面上取得照射部的表示。从准仪照射测定物的位置，可由倍率率更机能来实现尽面上测出物放大。。。一六荧光测厚仪十年以上研发团队集研发生产销售一体元素分析范围:氯(CI)-铀(U)厚度分析范围:各种元素及有机物一次可同时分析:23层镀层,24种元素厚度检出限:0.005um镀层厚度分析仪根据测量原理一般有以下五种类型:1.磁性测厚法适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为：钢、铁、银、镍。此种方法测量精度高。2.涡流测厚法适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种方法较磁性测厚法精度低。3.超声波测厚法目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的，国外个别厂家有这样的仪器，适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵，测量精度也不高。4.电解测厚法此方法有别于以上三种，不属于无损检测，需要***涂镀层。一般精度也不高。测量起来较其他几种麻烦。5.测厚法此种仪器价格昂贵，适用于一些特殊场合。江苏一六仪器XTU系列XTU-BLX荧光光谱仪仪器规格：外形尺寸：550mmx660mmx470mm（长x宽x高）样品仓尺寸：500mm×660mm×215mm（长x宽x高）仪器重量：55kg供电电源：交流220±5V功率：330W环境温度：15℃-30℃环境相对湿度：lt;70%EDX是借助于分析试样发出的元素特征X射线波长和强度实现的，根据不同元素特征X射线波长的不同来测定试样所含的元素。通过对比不同元素谱线的强度可以测定试样中元素的含量。通常EDX结合电子显微镜使用，可以对样品进行微区成分分析。常用的EDX探测器是硅渗锂探测器。当特征X射线光子进入硅渗锂探测器后便将硅原子电离，产生若干电子-空穴对，其数量与光子的能量成正比。任选靶材：W、Mo、Ag等X射线管：管电压50KV，管电流1mA可测元素：CI～U检测器：正比计数管样品观察：CCD摄像头测定软件：薄膜FP法、检量线法Z轴程控移动高度20mm。利用偏压收集这些电子空穴对，经过一系列转换器以后变成电压脉冲供给多脉冲高度分析器，并计数能谱中每个能带的脉冲数。{)