CMI165(带温度补偿功能的面铜测厚仪)CMI165是一款人性化设计、坚固耐用的世界***带温度补偿功能的手持式铜箔测厚仪。一直以来，面铜测量的结果往往受到样品温度的影响。CMI165的温度补偿功能解决了这个问题，确保测量结果精确而不受铜箔温度的影响。这款多用途的手持式测厚仪配有探针防护罩，确保探针的耐用性，即使在恶劣的使用条件下也可以照常进行检测。产品特色：--可测试高温的PCB铜箔--显示单位可为mils，μm或oz--可用于铜箔的来料检验--可用于蚀刻或整平后的铜厚定量测试--可用于电镀铜后的面铜厚度测试--配有SRP-T1，带有温度补偿功能的面铜测试头--可用于蚀刻后线路上的面铜厚度测试产品规格：--利用微电阻原理通过四针式探头进行铜厚测量，符合EN14571测试标准--厚度测量范围：化学铜：(0.25-12.7)μm,(0.01-0.5)mils电镀铜：(2.0-254)μm,(0.1-10)mils--仪器再现性:0.08μmat20μm(0.003milsat0.79mils)--强大的数据统计分析功能，包括数据记录平均数、标准差和上下限提醒功能。--数据显示单位可选择mils、μm或oz--仪器的操作界面有英文和简体中文两种语言供选择--仪器无需特殊规格标准片，同样可实现蚀刻后的线型铜箔的厚度测量，可测线宽范围低至0.2mm--仪器可以储存9690条检测结果（测试日期时间可自行设定）--测试数据通过USB2.0实现高速传输，也可保存为Excel格式文件--仪器为工厂预校准--客户可根据不同应用灵活设置仪器--用户可选择固定或连续测量模式--仪器使用普通AA电池供电SRP-T1：CMI165专用可更换探针牛津仪器工业分析部研发的SRP-T1探头，综合运用微电阻原理及温度补偿技术，使其成为世界上***推出带温度补偿功能的铜箔测厚仪的制造商。)