X射线测厚仪结构一六荧光测厚仪十年以上研发团队集研发生产销售一体元素分析范围:氯(CI)-铀(U)厚度分析范围:各种元素及有机物一次可同时分析:23层镀层,24种元素厚度检出限:0.005um（一）、外部结构原理图X荧光做镀层分析时，根据射线是至上而下照射样品，还是至下而上照射样品的方式，将X荧光分析仪的外部整体结构分为：上照射和下照射两种结构。（二）、各种外部结构的特点1、上照射方式用于照射(激发)的X射线是采用由上往下照射方式的设备称为上照射仪器。此类设备的Z轴为可移动方式，用于确定射线照射光斑的焦点，确保测量的准确性。①、Z轴的移动方式根据Z轴的移动方式，分为自动和手动两类；自动型的设备完全由程序与自动控制装置实现，其光斑对焦的重现性与准确度都很高，而且使用非常简便（一般是与图像采集系统与控制系统相结合的方式），一般只需要用鼠标在图像上点击一下即可***。此类设备对于测试形状各异的样品非常方便，也是目前主流的分析设备类型。于是内层形成空穴，外层电子跃迁回内层填补空穴，同时放出波长在0。手动型设备，一般需要用人观察图像的方式，根据参考斑点的位置，手动上下调节Z轴方向，以达到准确对焦的目的。因此，往往在测试对象几何结构基本上没有变化的情况下使用比较快捷。②、X、Y轴水平移动方式水平移动方式一般分为：无X、Y轴移动装置；手动X、Y轴移动装置；电动X、Y轴移动装置；全程控自动X、Y轴移动装置。这几类的设备都是根据客户实际需要而设计的，例如：使用无X、Y轴移动装置的也很多，结构简单，样品水平移动完全靠手动移动，这种设备适合于样品面积较大，***比较容易的测试对象。江苏一六仪器X荧光测厚仪测试要求：工作要求：1环境温度要求：15℃-30℃2环境相对湿度：lt;70%3工作电源：交流220±5V4周围不能有强电磁干扰。5Max功率：330W6外形尺寸：550mmx480mmx470mm（长x宽x高）7样品仓尺寸：500mm×360mm×215mm（长x宽x高）8仪器重量：55kg9分析软件EFP，可同时分析23层镀层，24种元素，不同层有相同元素也可分析10软件操作人性化封闭软件，自动提示校正和步骤，避免操作错误11X射线装置：W靶微聚焦加强型射线管江苏一六仪器一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。我们***的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名***通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、***的解谱方法和EFP算法结合精准***及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。但是由于影响荧光X射线的强度的因素较多，除待测元素的浓度外，仪器校正因子，待测元素X射线荧光强度的测定误差，元素间吸收增加效应校正，样品的物理形态（如试样的均匀性、厚度，表面结构等）等都对定了分析结果产生影响。x射线荧光膜厚测厚仪还应用于五金电镀厚度检测，首饰电镀厚度检测，电子连接件表层厚度检测，电镀液含量分析。电力行业高压开关柜用铜镀银件厚度检测，铜镀锡件厚度检测，航空材料金属镀层厚度检测。铜箔镀层厚度检测，光伏行业焊带铜镀锡铅合金厚度检测，铁镀铬镀锌镀镍厚度检测等。广泛应用于电子元器件、LED和照明、家用电器、通讯、汽车电子、*工等制造领域。)