头部集成了薄膜厚度测量所需功能通过显微光谱法测量高i精度绝i对反射率（多层膜厚度，光学常数）1点1秒高速测量显微分光下广范围的光学系统（紫外至近红外）区域传感器的安全机制易于分析向导，初学者也能够进行光学常数分析***测量头对应各种inline客制化需求支持各种自定义测量项目：绝i对反射率测量多层膜解析光学常数分析（n：折射率，k：消光系数）大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！为了确保膜厚仪的安全操作，必须注意以下几点：·始终按照操作手册的要求操作膜厚仪；·不要损坏安全互锁系统的任何元件，例如微动开关等等；·不要对膜厚仪做任何改变。影响膜厚仪测量的的客观因素耦合剂对膜厚仪的影响。耦合剂是用来排除探头和被测物体之间的空气，使超声波能有效地穿入工件达到检测目的。如果选择种类或使用方法不当，将造成误差或耦合标志闪烁，无法测量。因根据使用情况选择合适的种类，当使用在光滑材料表面时，可以使用低粘度的耦合剂；当使用在粗糙表面、垂直表面及顶表面时，应使用粘度高的耦合剂。)