简介:集成电路测试仪GT2200A测试仪集功能测试、参数测试于一体，专门用于各种单运放、多运放和电压比较器的测量。功能测试、测量数据、管脚选择、数据比较等均由CPU完成，不需过多的人工干预。只需简单且较少的按键操作就能让您得到您所关心的芯片参数，或优劣程度。免去使用各种接线盒来适配各种不同的运放/比较器的烦恼。测试操作简单，功能齐全，可按需要选取测量参数，测量结果不受人为因素影响。产品特点：1．根据IC型号自动切换测试，无需人工转接线更换测试盒。2．具有自校准功能，测试参数基准稳定。3．测试参数值读取快洁、直观。4．测试操作简单。5．它可以对线性IC的11项交直流参数进行测试及功能测试。6．提供自适应测试方式：以样片为基准，对同型号IC进行筛选测试进行快速筛选。集成电路测试仪GT2200A基本使用方法:先取一个“有代表”性(满足使用要求)的芯片进行“学习”，即将该芯片的各种应测数据保存起来。再对其他芯片进行有选择性的“比较”测试，即对您所关心的数据进行自动测量，并与“学习”数据进行比较，显示出优劣结果。操作十分简单，容易掌握；尤其是大批量筛选更为简单，优于样板的就通过，不必一一读取测量结果，并逐一查看其是否符合要求。若想看测量结果，也可用按键逐一翻看。应该说它即可满足生产筛选的需要，也可满足科研开发使用。GT2200A测试参数：测试参数符号单位误差失调电压ViomV<5％失调电流IionA<5％偏置电流IibnA<5％静态功耗PdmW<5％开环增益***ddb<5％共模***比Kcmrdb<5％输入电阻RidKΩ<10％输出电阻RosΩ<10％增益带宽积GbwKH<5％电源电压***比Ksvrdb<5％输出电压峰-峰值VoppV<5％集成电路测试仪测试内容说明：·静态工耗是在测试电压为&plu***n;8V下测得（个别特殊比较器在+12V/-6V下测得）。·对于自适应测试，比较误差小于5%·失调电压测量范围：100uV─100mV，Vos超过100mV时，认为功能失效；|Vos|在2mV─100mV之间，相对误差<3%；|Vos|在0.1─2mV之间，相对误差<6%失调电流。·偏置电流测量范围：Ios，Ib>10nA时相对误差<3%；Ios，Ib<10nA相对误差<8%；Ios；Ib<0.5nA，相对误差较大。·静态功耗测量范围：0.3─180mW、Pd>10mW，相对误差<3%·输出电阻测量范围：25─2.5k，分辨率为5Ω·输入电阻测量范围：20KΩ─15MΩ，分辨率KΩ·输入电阻高于15M的芯片不测此项参数，若“错敲”键入型号，如测LF347而键入“342”（LM324），所测的输入电阻是不真实的。·压摆率为扩充测试项。集成电路测试仪额定工作条件及规格：整机功耗：35W电源：220V/AC50HZ使用环境温度：5─35相对湿度：45%RH重量：5.5kg外界电磁干扰：避免)