产品优点︰全行程测量精度高—&plu***n;1µm重现性高—0.05µm专为工业环境设计—防护等级IP64结构紧凑，安装方便快捷多种结构配置可供选择坚固的设计—高的机械和热稳定性为多点式测量设备特别设计简化检测装置的构造无需反复校准，测量长期稳定球型探头可承受较大的径向力且摩擦力很小产品描述名称:高精度数字式探规型号:NT12,NT30品牌:JENA原产地:Germany产品简介应用：直线度检测平面度检测几何公差测量硅晶片的厚度测量量块校准直线导轨的误差测量计量和生产控制量块校准和测量设备的检查多点检测设备位置测量产品规格规格：NT12;NT30测量范围：12mm;30mm分辨率：0.05µm;0.1µm;0.2µm;0.5µm;1.0µm移动速度：Max:72m/min参考点位置：上极限以下5&plu***n;0.5mm处精度等级：&plu***n;1µm测杆驱动方式：手动/气动防护等级：IP64输出信号：1Vpp/11µApp/RS422电源电压：DC5V&plu***n;10%线长：标准:1.5m(Max:30m)产品优点全行程测量精度高—&plu***n;1µm重现性高—0.05µm专为工业环境设计—防护等级IP64结构紧凑，安装方便快捷多种结构配置可供选择坚固的设计—高的机械和热稳定性为多点式测量设备特别设计简化检测装置的构造无需反复校准，测量长期稳定球型探头可承受较大的径向力且摩擦力很小主要市场半导体设备，各种需要高精度、小行程的检测设备)