产品特点：仪器采用消光法自动测量薄膜厚度和折射率，具有精度高、灵敏度高以及自动控制等特点。光源采用氦***激光器，功率稳定波长精度高。仪器采用USB接口与电脑连接，配套软件功能齐全，具有多样数据采集及处理方式，适用于不同用户的需要。规格与主要技术指标：测量范围：1nm-4000nm折射率范围：1-10测量***小值：≤1nm入射角：20°-90°精度≤0.05°度盘刻度：每格1度允许样品尺寸：φ10-φ140mm，厚度≤16mm偏振器方位角范围：0°-180°外形尺寸：680*390*310mm测量膜厚和折射率重复性精度分别为：0.5nm和0.005主机重量：26kg仪器测量精度：&plu***n;0.5nm（薄膜厚度在10-100nm时）光学中心高度：80mm成套性：主机、电控系统、USB接口、配套软件成套性：主机、电控系统、USB接口、配套软件（需配计算机）)