仪器种类（XRF=X-射线荧光）XRF镀层厚度分析仪,操作简易,有***的功能价格比主要应用范围Xul:适合测量大量不同形状的元件，只需***的精力***XulM:特别适合测量非常精细的形状；如导电体，线，铅框产品***手动测量台，样品***非常容易及快速小巧设计可选配钴(Co)过滤器标准软件WinFTMV.6;PDM另购测量方向由下而上X-射线管XulM:微焦距Xul:钨管可加Ni和Al滤片准值器Xul:一个准值器直径0.3mm或0.05*0.3mmXulM:4个电动准值器直径0.1/0.2,方形0.05*0.05mm,长方形0.03*0.2mm***小测量面积Xul:直径0.51mmXulM:直径0.15mm有效对焦范围27.5mm***高读数氙气比例***测量台固定测量台或手动测量台放置样品及***样品可直接放在测量台上***，可选配手动XY台可编程XY移动范围不适用Z-轴不适用，光学对焦可至测量台上27.5mm距离测量室尺?纾?mm）宽360，深380，高240测量室大容量，配备固定及可更换的样品支架测量点对焦利用旋钮视觉对焦放大倍数（19〞显示屏）光学：38-46X数字：分级放大1,2,3及4X总倍数：38-184X)