parylene在磁性材料上的应用Parylene是一种优良的三防材料，其保护作用胜过有机硅树脂，环氧树脂和聚氨脂。以前，磁心一般采用普通的环氧树脂进行表面的加工处理。而随着磁性材料小（微）型化、精密化发展的需要，对磁性材料表面处理的要求越来越高，透明涂覆（ParyleneCoating）技术正符合了这一趋势。现在，在磁性材料表面涂覆parylene真镀膜已经成为一种趋势，特别是6以下的小型磁性材料。相对于普通的表面处理，该技术所产生的膜层薄却具有耐压高、表面润滑、耐腐蚀性等的良好特点，尤其是其涂层可控制在1微米至20微米的厚度，这种超薄的膜层优势满足了目前一些品质要求高的且微型（如高磁导率磁心等）磁性材料产品的表面加工处理需要。Parylene-C（Parylene-N）涂装材料和生产技术，符合RoHs要求（ParyleneCoating）技术还广泛应用于精密pcb板、微型马达铁心、硬磁体、硅橡胶等产品的涂覆加工处理。涂层表面检查在标准中使用的一个术语“均匀”很有意思你。单独看这个词，耳机板防汗镀膜，它可能包含很多意思，但是必须把它与稍后讨论的涂敷细节和对厚度的要求结合起来考虑。总的来说，在没有考虑涂敷细节和对厚度的要求的情况下，这个术语对了解表面涂层标准没有多大帮助。大多数表面涂料现在都含有光学增白剂，暴露在紫外（UV）光下时会发出荧光。反过来，这使检查表面涂层变得更加容易。不过，在紫外光下，东莞耳机板防汗镀膜，涂层的一些缺陷会看不到，耳机板防汗，可能需要在白色光（自然光）下检查。由于材料的性质，上海耳机板防汗镀膜，一些涂料的紫外荧光很弱。这种情况可以在许多硅表面涂层看到，可能使检查更加困难。使用傅里叶变换红外光谱仪(FTIR，NicoletAuatar370DTGS)对a-C:F薄膜表面的化学成分及成键结构进行分析。利用光学接触角测试仪(Phoenix300)测量a-C:F薄膜与去离子水之间的接触角。把水滴滴到一固体平面上时，平衡状态下液-气界面所成的角度θe表示接触角。利用扫描探针显微镜(AFM，Dimension3100)测量a-C:F薄膜(以硅片为基底，硅片表面光洁平滑，RMS值为0.1nm)，观察不同放电条件下a-C:F薄膜形貌的变化。实验在大气环境中操作，使用掺磷硅纳米碳针尖，针尖直径lt;10nm，测量范围为2μm×2μm。实验中选取轻敲模式(即在一个振动周期的大部分时间内针尖不接触a-C:F薄膜表面，可以对薄膜进行无损检测)测量a-C:F薄膜的表面形貌。用台阶仪(SurfcorderET4000m)测量薄膜厚度，再用厚度除以沉积时间，得到薄膜的沉积速率。上海耳机板防汗镀膜-耳机板防汗-菱威纳米(查看)由东莞菱威纳米科技有限公司提供。上海耳机板防汗镀膜-耳机板防汗-菱威纳米(查看)是东莞菱威纳米科技有限公司（）升级推出的，以上图片和信息仅供参考，如了解详情,请您拨打本页面或图片上的联系电话，业务联系人：杜小姐。)