一般来说，就是经过改良的体视显微镜或金相显微镜。对于观察精度要求不高的物体可用体视显微镜来代替，如：观察晶元、线路板等，而对于要求高的被观察物体则要用到后者，如：半导体硅晶片、金相试样等等，由于特殊需要还可选配暗场、偏光及试样压平器等附件。)