镀层测厚仪产品介绍
江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们***的研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名***通力合作,研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪一六仪器X荧光光谱测厚仪镀层分析X射线荧光光谱特点1.镀层分析快速、无损,对样品无需任何处理。一般测试一个点只需要数10S-1分钟,分析精度高。2.可测试超薄的镀层。3.可测试多镀层,分析精度远远高于其他测量方法。4.可分析合金镀层厚度。如果合金镀层成分稳定,选择合适的对比分析样品,就可以准确的分析出合金镀层的厚度。5.对于样品可进行连续多点测量,适合分析镀层的厚度分布情况,并可以对样品的复杂面进行测量。6.对分析的多镀层每层之间的材料,要求有明显的区别7.不可以测试超厚样品,普通金属镀层总厚度一般不超过40微米。8.可以对样品进行测试9.属于对比分析仪器,测试不同的镀层样品需要不同发镀层标样江苏一六仪器我们***的研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名***通力合作,研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。数据报告:对测量的数据结果进行对比和分析,判断数据是否正常,若出现异常可进行多次测量排除偶然误差14。稳定的多道脉冲分析采集系统、***的解谱方法和EFP算法结合精准***及变焦结构设计,解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。-样品观察系统高分辨、彩色、实时CCD观察系统,标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。激光辅助光自动对焦功能可变焦距控制功能和固定焦距控制功能7计算机系统配置IBM计算机:1.6G奔腾IV处理器,256M内存,1.44M软驱,40G硬盘,CD-ROM,鼠标,键盘,17寸彩显,56K调制解调器。惠普或爱普生彩色喷墨打印机。8分析应用软件操作系统:Windows2000中文平台中文分析软件包:***artLinkFP软件包X射线荧光光谱测厚仪定量分析利用荧光X射线进行定量分析的时候,大致分为3个方法。一个是制作测量线的方法(经验系数法)。这个方法是测定几点实际的已知浓度样品,寻求想测定元素的荧光X射线强度和浓度之间的关系,以其结果为基础测定未知样品取得荧光X射线,从而得到浓度值。另一个方法是理论演算的基础参数法(FP法)。这个方法在完全了解样品的构成和元素种类前提,利用计算的各个荧光X射线强度的理论值,推测测定得到未知样品各个元素的荧光X射线强度的组成一致。)
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