大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！膜厚仪测试时有关辐射安全注意事项幅射安全方面膜厚仪由于使用X射线管而产生辐射。测量头的设计完全符合国际X射线安全要求：·测量头控制台上的一个钥匙开关通过打开或关闭X射线管上的高压决定X幅射的产生与否；·一个多级故障自动***互锁系统可控制X幅射的产生，从而有效保护操作者的安全；·如果测量门没有完全关闭，X幅射就不会进入测量室；·足够的遮罩用来减小外部的幅射量。1.膜厚测试仪出现下列情况，必需重新校准。·校准时，输入了一个错误值；·操作错误。2.在直接方式下，如果输入了错误的校准值，应紧接着做一次测量，随后再做一次校准，即可获取新值消除错误值。3.每一组单元中，只能有一个校准值。4.零点校准和二点校准都可以重复多次，以获得更为精准的校准值，提高测量精度但此过程中一旦有过一次测量，则校准过程便告结束。膜厚仪直接的镀膜操纵方法是石英晶体微量平衡法(QCM)，此法可以直接驱动蒸发祥，通过PID控制循环驱动挡板，保持蒸发速率。只有将仪器与系统控制软件相连接，它就可能节制全体的镀膜进程。然而QCM的正确度是有限的，部分起因是由于它监控的是被镀膜的质量而不是其光学厚度。如果膜厚测试仪已经进行了适当的校准，所有的测量值将保持在一定的误差范围内；根据统计学的观点，一次读数是不可靠的。因此任何由膜厚测试仪显示的测量值都是五次“看不见”的测量的平均值。这五次测量是在几分之一秒的时间内由探头和仪器完成的。)