大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！产品特点高动态范围(HDR)光谱仪可量测透明、低对比、高反射率样品，适用于量测光通量。如何选购合适的光谱仪分辨率的考虑在光谱测量过程中，许多科研级的光谱检测要求分辨率比较高，一般是需要分辨开距离非常近的两个峰，那么在选购光谱仪时就需要考虑这一因素。有效***杂散光，适合UV光谱分析。相较于本公司历代分光光度计，杂光率仅约五分之一!***时间5msec~65sec*。适用于量测微弱光源以及架设于生产线上即时检测等多元应用。经过特殊设计缠绕的光纤，展现稳定的重复再现性量测。小巧轻量化的设计，相较于历代机型，容积比约减少60%。近红外光谱技术（NIR）是90年代以来发展快、引人注目的分析技术之一。近红外光谱技术（NIR）是90年代以来发展快、引人注目的分析技术之一。仪器是较新型X射线荧光光谱仪，具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。随着NIR分析方法的深入应用和发展，已逐渐得到大众的普遍接受和官1方的认可。1978年美国和加大就采用近红外法作为分析小麦蛋白质的标准方法，1998年美国材料试验学会制订了近红外光谱测定多元醇（聚亚安酯原材料）中羟值含量的ASTMD6342标准方法。2003年，在我国也正式实施了近红外光谱方法测定饲料中水分、粗蛋白质、粗纤维、粗脂肪、赖氨酸、蛋氨酸的***标准GB/T188682002多通道光谱仪特征可通过***aGige远程控制、实现人机分离数字和模拟I/O接口StoretoRAM功能，可以快速存储一定数目的光谱历史通道功能，同时监测多8个函数（如强度、波长）随时间的变化实时显示峰值波长、强度和FWHM值多通道数据自动拼接成一幅完整的光谱光强化处理（辐射校准）仪器是较新型X射线荧光光谱仪，具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。MK350的量测数值可储存在SD卡内，其中Excel格式文件储存光谱数据，BMP格式储存四个界面的量测图形。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析，薄膜分析。测量样品的i大尺寸要求为直径51mm,高40mm.)