海南检修用IGBT测试仪现货供应价格行情
什么是大功率半导体元件?其用途为何?凡是半导体元件如金属氧化场效晶体管(MOSFET)、IGBT(INSULATEDGATEB.TRANSISTOR)及TRIAC(可控硅)、SCR(晶闸管)、GTO等各型闸流体与二极管(DIODE)等,其工作电流与电压乘积若大于1KW以上,均可属于大功率的范围。可生成器件的I-V特性曲线,曲线上测试点数据可以导出到EXCEL表格。如下图片所示。此类元件多用于车船,工厂的动力,光电及其他能源的转换上。公司拥有一批长期从事自动控制与应用、计算技术与应用、微电子技术、电力电子技术方面的人才。4验收和测试3)验收试验应在-10~40℃环境温度下进行,验收完成后测试平台及外部组件和装置均应安装在买方的位置上。公司装备精良,具有***的检测手段,产品生产严格按照ISO9001∶2008标准质量管理体系运行,其品质、技术及工艺方面保持国内,部分产品达到国外同类产品的***水平。产品广泛应用于电力、冶金自动化、轨道交通、电力电子新能源开发等行业,部分产品出口到欧美等发达***。2.4短路技术条件1、Vcc:200~1000V200~1000V±3%±2V2、一次短路电流:20000A500~1000A±3%±2A1000A~5000A±2%±5A5000A~20000A±2%±10A3、tp:5-30us2.5雪崩技术条件1、Vce:50~500V±3%±5V500~1000V±3%±5V2、Ic:1A~50A1A~9.9A±3%±50mA10A~50A±3%±1A3、EA:10mJ~20J10mJ~1000mJ±3%±1mJ1J~20J±3%±10mJ4、脉冲宽度:40—1000uS可设定5、测试频率:单次2.6NTC测试技术条件阻值测量范围:0~20KΩ其中:Vcc试验电压源±VGG栅极电压C1箝位电容Q1陪测器件(实际起作用的是器件中的续流二极管)L负载电感:100uH、200uH、500uH、1000uH自动切换IC集电极电流取样电流传感器DUT被测器件关断时间采用单脉冲测试,由计算机设定并控制输出集电极电压VCC值到被测器件的测试要求值(一般为被测器件额定电压的1/2),设定±VGG到测试要求值,开关被测器件DUT一次,被测器件的开冲持续时间必须保证DUT完全饱和,同时监测集电极电流IC、栅极-发射极电压VGE和集电极-发射极电压VCE,记录下被测器件IC、VCE以及VGE的波形,其中,VCE采样到示波器的CH1通道,IC取样到示波器的CH2通道,VGE采样到示波器的CH3通道,示波器通过光通讯方式将测试波形传输给计算机,由计算机对测试波形进行分析与计算,后显示测试结果。01VIF:0-1200A±2%±1AVge:0V。)
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