?硬件系统由插卡和数据处理器板组成，插卡可以是8通道的测量卡或40路报警输出的报警卡。每张测量卡上有***的处理器和AD转换器，对8路通道信号进行轮询式测量。处于插槽的插卡可以实现高速通讯模式。?测量信号直流电阻，它的量程范围为300mΩ～300kΩ，可以测试10?Ω～320kΩ的电阻，大显示32000数。测试速度30次/秒。?数据保存功能测量数据按照定的周期写入内存。内存中的数据可以自动或手动保存到U盘。?显示功能对每个通道的测量数据可以进行数字显示。并且，还可以在总览画面中同时显示并监测所有的测量通道。?通讯功能用户可以通过RS232/RS485接口和上位机进行通讯，使用协议为MODBUS协议。?应用场合UC2517MX可测量各种高、中、低值电阻器；各种开关接触电阻；接插件接触电阻；继电器线包和触点电阻；变压器、电感器、电机、偏转线圈绕线电阻；导线电阻；车、船、飞机的金属铆接电阻；印制版线条和孔化电阻等。采用两个或多个单元从而实现分布式电缆的多端测试。将被测线缆连接到相应的连接器，选择其中的一个单元作为主机，碳素材料电阻率测试推荐，检索先前存储的线束，将线束分别连接至测试仪即可实现测试。在较短时间内就会向用户报告诸如打开、短路、交叉线或高电阻等故障。可选的TDR特性允许您不仅诊断连接器故障，还可以将故障追溯到线束中的特***探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；《四探针探头特点与选型参考》点击进入仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的手持式导电性能的测试。可测材料尺寸手持方式不限材料尺寸，但加配测试台则由选配测试台决定如下：直径：圆测试台直接测试方式Φ15～130mm。方测试台直接测试方式180mm×180mm。长(高)度：测试台直接测试方式H≤100mm。.测量方位:轴向、径向均可.（2）恒流源：输出电流：DC0.1mA～10mA分两档10mA量程：0.1～1mA连续可调10mA量程：1mA～10mA连续可调恒流精度：各档均优于±0.1%适合测量各种厚度的硅片（3）直流数字电压表测量范围：0～199.9mv灵敏度：100μv准确度：0.2%（±2个字）（4）供电电源：AC：220V±10%50/60HZ功率8W（5）使用环境：相对湿度≤80%（6）重量、体积重量：2.2公斤体积：宽210×高100×深240（mm）(7)KD探针头压痕直径：30/50μm间距：1.00mm探针合力：8±1N针材：TC北京冠测(多图),石墨电极电阻率的现场测量免费咨询由北京冠测精电仪器设备有限公司提供。行路致远，砥砺前行。北京冠测精电仪器设备有限公司（）致力成为与您共赢、共生、共同前行的战略伙伴，更矢志成为试验机较具影响力的企业，与您一起飞跃，共同成功!)