当负荷较大时，很容易有发热现象。而且，开关柜在运行过程中柜门禁止打开，一般手段根本无法发现发热，柜内温度不断上升，无法向外界排放热量，热量不断积累，如不加以控制，将造成接头变红，熔断甚至火灾等严重事故。分布式光纤测温技术为高压开关柜内温度检测提供了新的方法，其构成原理决定了它不会产生电磁干扰，并且具有高电压、强腐蚀、辐射和强电磁干扰的环境下运行以及可进行连续空间测温等特点。威胁生产安全，人身安全。究其发热原因，确是多种多样的。理论上来说，负荷通常达不到开关柜的额定容量时，不会出现温升异常的情况，但实际情况并非如此。实际情况下开关柜的温升问题还是很严重的。分布式光纤温度传感器的发展分布式光纤温度传感器一直是国内外研究的热门课题。1980年，首先提述了利用OTDR原理来实现对空间分布的温度的测量。操作仪表门上合、分转换开关使断路器分闸停电，同时仪表门上红色合闸指示灯灭，绿色分闸指示灯亮，查看其它相关信号，一切正常，停电成功。当窄带脉冲被注入到波导纤维中时，利用光雷达原理，该系统通过测后向散射光强随时间变化的关系来检测光纤的连续性。用OTDR技术，可以确定光纤各处的损耗，光纤故障点断点的位置，因此也称为光纤光雷达。为了简化其理论电路分析中的方程式，工程师和发明人通常使用“理想开关”的概念，其关闭时不会引起电压下降，开启或关闭时瞬间运行，时滞不会升高或降低，且没有额定电流或电压限制。但实际生活中并不存在理想开关。柜体由壳体、电器元件(包括绝缘件)、各种机构、二次端子及连线等组成。现实开关有可测开关次数、电阻和可负荷电压及电流限制。所以若忽略现实材料的性能，理想开关会导致现实生活中的错误解决方案。开关发明人和制造商总是在其开关大型网络的理论模型中（如电话局）将非理想性能的影响包含入内，以限制错误。)